2026年4月20日〜4月22日に開催された国際学会 Asian Conference on Trapped Ions 2026で、修士1年の平井が研究成果発表を行いました。
タイトル：”Quantum Process Tomography Analysis of Thermal Noise in Mølmer-Sørensen Gates for Quantum Error Correction”
著者/発表者：Noah Hirai, Kazufumi Tanji, Koichiro Miyanishi, Isamu Kudo, Shin Nishio, Takahiko Sato, Hiroki Takahashi, and Masahiro Takeoka